庄司 奈津

庄司 奈津

Natsu Shoji

学年:修士2年

email:n.shoji  後ろに”@uec.ac.jp”を付けてください


研究テーマ

  • フォールト解析
  • 安全性評価

Biography

  • 2014/04, 電気通信大学 情報理工学部 総合情報学科 入学
  • 2018/03, 電気通信大学 情報理工学部 総合情報学科 卒業
  • 2018/04, 電気通信大学大学院 情報理工学研究科 情報学専攻 入学

受賞歴

  • IWSEC 2017 Best Poster Award
  • SEC道後2018 学生研究賞
  • 平成29年度 電気通信大学 学生表彰
  • 平成30年度 電気通信大学 学生表彰(社会活動部門)

国際会議プロシーディングス(査読あり)

  1. Natsu Shoji, Takeshi Sugawara, Mitsugu Iwamoto and Kazuo Sakiyama, “An Abstraction Model for 1-bit Probing Attack on Block Ciphers,” In Proc. International Conference on Computer and Communication Systems (ICCCS’19), IEEE,(Feb., 2019)

学会口頭発表(査読なし)

  1. 庄司奈津, 菅原健, 岩本貢, 崎山一男, “ブロック暗号へのプロービング攻撃における鍵復元効率の正確な評価モデル,” 2018年暗号と情報セキュリティシンポジウム (SCIS2018), 3D3-5, 8 pages (2018年1月23日~26日).

その他

  1. Natsu Shoji, Takeshi Sugawara, Mitsugu Iwamoto and Kazuo Sakiyama, “Modeling 1-bit Probing Attack on Block Ciphers,” The First International Workshop on Hardware Oriented Cybersecurity (HwSec2018), 口頭発表 (Dec., 19, 2018).
  2. 庄司奈津, 松村竜我, 菅原健, 崎山一男, “An Evaluation of Ineffective Fault Analysis on AES using Single-Bit Bit-Set/Reset Faults,” The 12th International Workshop on Security (IWSEC2017) ポスター発表 (2017年8月30日~9月1日).
  3. 庄司奈津, 松村竜我, 菅原健, 崎山一男, “誤り暗号文を使わないAESへの故障利用攻撃,” ハードウェアセキュリティ研究会2017(HWS2017) 口頭発表 (2017年6月12日~13日).

学術論文(査読あり)(共著)

  1. Takeshi Sugawara, Natsu Shoji, Kazuo Sakiyama, Kohei Matsuda, Noriyuki Miura, and Makoto Nagata, “Side-Channel Leakage from Sensor-Based Countermeasures against Fault Injection Attack,” Microelectronics Journal, Vol. 90, pp.63-71, 2019.
  2. Kohei Matsuda, Tatsuya Fujii, Natsu Shoji, 
Takeshi Sugawara, Kazuo Sakiyama, Yu-ichi Hayashi, 
Makoto Nagata, and Noriyuki Miura, “A 286 F2/Cell Distributed Bulk-Current Sensor and Secure Flush Code Eraser against Laser Fault Injection Attack on Cryptographic Processor,” IEEE Journal of Solid-State Circuits, Vol.53, No.11, pp. 3174-3182, (Nov., 2018).

国際会議プロシーディングス(査読あり)(共著)

  1. Hakuei Sugimoto, Ryota Hatano, Natsu Shoji, and Kazuo Sakiyama, “Validating the DFA Attack Resistance of AES (Short Paper),” In Proc. International Symposium on Foundations & Practice of Security (FPS’19), LNCS XXXX, Springer-Verlag, pp.YYY-ZZZ, (to appear in Nov., 2019).
  2. Kohei Matsuda, Tatsuya Fujii, Natsu Shoji, Takeshi Sugawara, Kazuo Sakiyama, Yu-ichi Hayashi, Makoto Nagata, and Noriyuki Miura, “A 286 F2/Cell Distributed Bulk-Current Sensor and Secure Flush Code Eraser Against Laser Fault Injection Attack,” Dig. Tech. Papers, 2018 IEEE Intl. Solid-State Circuits Conference (ISSCC’18), IEEE, #21.5, pp.352-354, (Feb. 2018).
  3. Takeshi Sugawara, Natsu Shoji, Kazuo Sakiyama, Kohei Matsuda, Noriyuki Miura, and Makoto Nagata, “Exploiting Bitflip Detector for Non-Invasive Probing and its Application to Ineffective Fault Analysis,” In Proc. Workshop on Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography (FDTC’17), IEEE, pp.49-56, (Sep., 2017).

学会口頭発表(査読なし)(共著)

  1. 杉本博英, 羽田野凌太, 庄司奈津, 崎山一男, “AES暗号への9ラウンド差分故障解析の攻撃耐性の評価,” IEICE2019年ソサイエティ大会, (Sep., 2019).
  2. Yang Li, Natsu Shoji, Takeshi Sugawara, Kazuo Sakiyama, “Investigation of Information Leakage from A Laser Fault Injection Sensor,” IEICE2019年総合大会, (Mar., 2019).
  3. 羽田野凌太, 庄司奈津, 李陽, 菅原健, 崎山一男, “AES暗号への故障差分攻撃のモデル化と攻撃回数の評価,” IEICE2018年ソサイエティ大会, (Sep., 2018).
  4. 菅原健, 庄司奈津, 崎山一男, 松田航平, 三浦典之, 永田真, “フォルト検出センサを悪用した非侵襲プロービング攻撃,” 2018年暗号と情報セキュリティシンポジウム (SCIS2018), 3D3-6, 3 pages, (Jan., 2018).

その他(共著)

  1. 松田航平, 藤井達哉, 庄司奈津, 菅原健, 崎山一男, 林優一, 永田真, 三浦典之, “レーザー故障注入攻撃対策を備えた暗号ICの設計手法,” 情報処理学会DAシンポジウム2018 (特別セッション), 6pages, (Aug., 2018).
  2. 松田航平, 藤井達哉, 庄司奈津, 菅原健, 崎山一男, 林優一, 永田真, 三浦典之, “基板電流センサと電源瞬断回路を利用した小面積レーザーフォールト注入攻撃対策,” ハードウェアセキュリティ研究会 (HWS), (Apr., 2018).
  3. 松村竜我, 庄司奈津, 菅原健, 崎山一男, “光を用いたサイドチャネル認証,” コンピュータセキュリティシンポジウム2017 (CSS2017)デモンストレーション/ポスター セッション, (Oct., 2017).
  4. 松村竜我, 庄司奈津, 菅原健, 崎山一男, “ダイオードレーザーを用いた光によるサイドチャネル認証,” ハードウェアセキュリティ研究会 (HWS), (Jun., 2017).