庄司 奈津

庄司 奈津

Natsu Shoji

学年:修士2年

email:n.shoji  後ろに”@uec.ac.jp”を付けてください


研究テーマ

  • フォールト解析
  • 安全性評価

Biography

  • 2014/04, 電気通信大学 情報理工学部 総合情報学科 入学
  • 2018/03, 電気通信大学 情報理工学部 総合情報学科 卒業
  • 2018/04, 電気通信大学大学院 情報理工学研究科 情報学専攻 入学

受賞歴

  • IWSEC 2017 Best Poster Award
  • SEC道後2018 学生研究賞
  • 平成29年度 電気通信大学 学生表彰
  • 平成30年度 電気通信大学 学生表彰(社会活動部門)

国際会議プロシーディングス(査読あり)

  1. Natsu Shoji, Takeshi Sugawara, Mitsugu Iwamoto and Kazuo Sakiyama, “An Abstraction Model for 1-bit Probing Attack on Block Ciphers,” In Proc. International Conference on Computer and Communication Systems (ICCCS’19), IEEE,(Feb., 2019)

学会口頭発表(査読なし)

  1. 庄司奈津, 菅原健, 岩本貢, 崎山一男, “ブロック暗号へのプロービング攻撃における鍵復元効率の正確な評価モデル,” 2018年暗号と情報セキュリティシンポジウム (SCIS2018), 3D3-5, 8 pages (2018年1月23日~26日).
  2. 菅原健, 庄司奈津, 崎山一男, 松田航平, 三浦典之, 永田真, “フォルト検出センサを悪用した非侵襲プロービング攻撃,” 2018年暗号と情報セキュリティシンポジウム (SCIS2018), 3D3-6, 3 pages, (Jan., 2018).

その他

  1. Natsu Shoji, Takeshi Sugawara, Mitsugu Iwamoto and Kazuo Sakiyama, “Modeling 1-bit Probing Attack on Block Ciphers,” The First International Workshop on Hardware Oriented Cybersecurity (HwSec2018), 口頭発表 (Dec., 19, 2018).
  2. 松村竜我, 庄司奈津, 菅原健, 崎山一男, “光を用いたサイドチャネル認証,” コンピュータセキュリティシンポジウム2017 (CSS2017), ポスター・デモ発表 (2017年10月23日~25日).
  3. 庄司奈津, 松村竜我, 菅原健, 崎山一男, “An Evaluation of Ineffective Fault Analysis on AES using Single-Bit Bit-Set/Reset Faults,” The 12th International Workshop on Security (IWSEC2017) ポスター発表 (2017年8月30日~9月1日).
  4. 庄司奈津, 松村竜我, 菅原健, 崎山一男, “誤り暗号文を使わないAESへの故障利用攻撃,” ハードウェアセキュリティ研究会2017(HWS2017) 口頭発表 (2017年6月12日~13日).

学術論文(査読あり)(共著)

  1. Takeshi Sugawara, Natsu Shoji, Kazuo Sakiyama, Kohei Matsuda, Noriyuki Miura, and Makoto Nagata, “Side-Channel Leakage from Sensor-Based Countermeasures against Fault Injection Attack,” Microelectronics Journal, Vol. 90, pp.63-71, 2019.
  2. Kohei Matsuda, Tatsuya Fujii, Natsu Shoji, 
Takeshi Sugawara, Kazuo Sakiyama, Yu-ichi Hayashi, 
Makoto Nagata, and Noriyuki Miura, “A 286 F2/Cell Distributed Bulk-Current Sensor and Secure Flush Code Eraser against Laser Fault Injection Attack on Cryptographic Processor,” IEEE Journal of Solid-State Circuits, Vol.53, No.11, pp. 3174-3182, (Nov., 2018).

国際会議プロシーディングス(査読あり)(共著)

  1. Kohei Matsuda, Tatsuya Fujii, Natsu Shoji, Takeshi Sugawara, Kazuo Sakiyama, Yu-ichi Hayashi, Makoto Nagata, and Noriyuki Miura, “A 286 F2/Cell Distributed Bulk-Current Sensor and Secure Flush Code Eraser Against Laser Fault Injection Attack,” Dig. Tech. Papers, 2018 IEEE Intl. Solid-State Circuits Conference (ISSCC’18), IEEE, #21.5, pp.352-354, (Feb. 2018).
  2. Takeshi Sugawara, Natsu Shoji, Kazuo Sakiyama, Kohei Matsuda, Noriyuki Miura, and Makoto Nagata, “Exploiting Bitflip Detector for Non-Invasive Probing and its Application to Ineffective Fault Analysis,” In Proc. Workshop on Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography (FDTC’17), IEEE, pp.49-56, (Sep., 2017).

学会口頭発表(査読なし)(共著)

  1. 杉本博英, 羽田野凌太, 庄司奈津, 崎山一男, “AES暗号への9ラウンド差分故障解析の攻撃耐性の評価,” IEICE2019年ソサイエティ大会, (Sep., 2019).
  2. Yang Li, Natsu Shoji, Takeshi Sugawara, Kazuo Sakiyama, “Investigation of Information Leakage from A Laser Fault Injection Sensor,” IEICE2019年総合大会, (Mar., 2019).
  3. 羽田野凌太, 庄司奈津, 李陽, 菅原健, 崎山一男, “AES暗号への故障差分攻撃のモデル化と攻撃回数の評価,” IEICE2018年ソサイエティ大会, (Sep., 2018).
  4. 菅原健, 庄司奈津, 崎山一男, 松田航平, 三浦典之, 永田真, “フォルト検出センサを悪用した非侵襲プロービング攻撃,” 2018年暗号と情報セキュリティシンポジウム (SCIS2018), 3D3-6, 3 pages, (Jan., 2018).

その他(共著)

  1. 松田航平, 藤井達哉, 庄司奈津, 菅原健, 崎山一男, 林優一, 永田真, 三浦典之, “レーザー故障注入攻撃対策を備えた暗号ICの設計手法,” 情報処理学会DAシンポジウム2018 (特別セッション), 6pages, (Aug., 2018).
  2. 松田航平, 藤井達哉, 庄司奈津, 菅原健, 崎山一男, 林優一, 永田真, 三浦典之, “基板電流センサと電源瞬断回路を利用した小面積レーザーフォールト注入攻撃対策,” ハードウェアセキュリティ研究会 (HWS), (Apr., 2018).
  3. 松村竜我, 庄司奈津, 菅原健, 崎山一男, “光を用いたサイドチャネル認証,” コンピュータセキュリティシンポジウム2017 (CSS2017)デモンストレーション/ポスター セッション, (Oct., 2017).
  4. 松村竜我, 庄司奈津, 菅原健, 崎山一男, “ダイオードレーザーを用いた光によるサイドチャネル認証,” ハードウェアセキュリティ研究会 (HWS), (Jun., 2017).