﨑山・李・宮原研究室
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矢ヶ崎玲奈, 崎山一男, 林優一, 三浦典之, “差分故障解析に対するデバイスレベルの対策手法に向けて,” Hot Channel Workshop 2015 (2015年10月8日).
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松田航平, 三浦典之, 永田真, 林優一, 藤井達哉, 崎山一男, “レーザーフォルト注入時のIC基板電位変動のオンチップ測定,” Hot Channel Workshop 2015 (2015年10月8日).
矢ヶ崎玲奈, 崎山一男, “ガラスのムラを用いた人工物メトリクスの研究,” Hot Channel Workshop 2014 (2014年10月7日).
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