﨑山・李・宮原研究室

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松田航平, 三浦典之, 永田 真, 林 優一, 藤井達哉, 矢ヶ崎玲奈, 崎山一男, “レーザーフォールト注入時のIC基板電位変動のオンチップ測定,” 2016年暗号と情報セキュリティシンポジウム (SCIS’16), 2F1-4, 6 pages (Jan., 2016).

この投稿は2023/06/09にDaikiMiyaharaが公開しました。

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