﨑山・李・宮原研究室

コンテンツへスキップ
  • ホーム
  • 研究室メンバー
  • 研究室概要
  • 研究成果
  • 講義関連
  • 配属を希望する学生へ
  • 卒業生の声
  • 所在地
﨑山・李・宮原研究室

中曽根俊貴, 李陽, 岩本貢, 太田和夫, 崎山一男, “クロック間衝突を漏洩モデルとする新たなサイドチャネル解析と並列実装AES暗号ハードウェアにおける弱い鍵,” 電子情報通信学会論文誌(A), Vol.J97-A, No.11, pp.695–703 (Nov., 2014).

この投稿は2023/04/13にDaikiMiyaharaが公開しました。

投稿ナビゲーション

← Sho Endo, Yang Li, Naofumi Homma, Kazuo Sakiyama, Kazuo Ohta, Daisuke Fujimoto, Makoto Nagata, Toshihiro Katashita, Jean-Luc Danger, and Takafumi Aoki, “A Silicon-level Countermeasure against Fault Sensitivity Analysis and Its Evaluation,” IEEE Trans. Very Large Scale Integr. (VLSI) Syst., Vol.23, No.8, pp.1429–1438 (Aug., 2015). Daisuke Fujimoto, Noriyuki Miura, Makoto Nagata, Yuichi Hayashi, Naofumi Homma, Takafumi Aoki, Yohei Hori, Toshihiro Katashita, Kazuo Sakiyama, Thanh-Ha Le, Julien Bringer, Pirouz Bazargan-Sabet, Shivam Bhasin, and Jean-Luc Danger, “Power Noise Measurements of Cryptographic VLSI Circuits Regarding Side-Channel Information Leakage,” IEICE Trans. Electronics, Vol.E97-C, No.4, pp.272–279, (Apr., 2014). →
Proudly powered by WordPress